CRD 高反射率测量仪
针对高反射率（R＞99．7％）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring－Down Spectroscopy，CRDS）CRD高反射率测量仪， 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差， 大大提高了测量精度。
CRD 高反射率测量仪原理
当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。
τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1／e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为：
从公式上可知，腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。
要计算待测样品的反射率R，需要知道参考片的反射率Rref （详见参考片说明部分），则
CRD系统介绍
系统包含：
1． 激光光源
2． 光学零部件
3． A／D转换器
4． 探测系统
原文标题:CRD高反射率测量仪
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